г. Москва, Нагорный проезд д.7 стр. 1
Пн-Пт: 9:00-18:00 Сб-Вс: выходной
Метод собственного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.