г. Москва, Нагорный проезд д.7 стр. 1
Пн-Пт: 9:00-18:00 Сб-Вс: выходной
Метод фотоэлектрического оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.